檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：掃描探針顯微鏡 (Scanning Probe Microscopy)
- 價格型號：Multimode V
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器/掃描探針顯微鏡
- 應用領域：其他
- 所屬單位：復旦大學物理學系
- 所在地點：上海市楊浦區邯鄲路220號
- 產 地：美國
- 產 商：美國Veeco公司
- 價 值：0
- 購置日期：0000-00-00
主要技術指標：掃描范圍：10μm×10μm橫向分辨率：~ 5 nm (電學測量模式為10~20nm)CAFM電流分辨率< 5pA
功能/應用范圍：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等主要應用為：納米尺度的電學性質測量
主要測試和研究領域：其他
